描述：2470高壓SourceMeter®源測量單元（SMU）儀器將先進的Touch、Test、Invent®技術帶到您的指尖。它將創(chuàng)新的圖形用戶界面（GUI）與電容觸摸屏技術相結合，使測試變得直觀，并最大限度地減少學習曲線。憑借其1100 V和10 fA的性能，2470被優(yōu)化用于測試高電壓、低泄漏器件、材料和模塊等。
型號概述
產(chǎn)品概述
2470高壓SourceMeter®源測量單元（SMU）儀器將先進的Touch、Test、Invent®技術帶到您的指尖。它將創(chuàng)新的圖形用戶界面（GUI）與電容觸摸屏技術相結合，使測試變得直觀，并最大限度地減少學習曲線，幫助工程師和科學家更快地學習，更智能地工作，更容易發(fā)明。憑借其1100 V和10 fA的性能，2470被優(yōu)化用于表征和測試高電壓、低泄漏器件、材料和模塊，如碳化硅（SiC）、氮化鎵（GaN）、功率MOSFET、瞬態(tài)抑制器件、電路保護器件、功率模塊、電池等。
主要性能特點
● ?覆蓋范圍廣，最大可達1100 V/1 A DC 20 W
● 10 fA測量分辨率
● 0.012%的基本測量精度，分辨率為6?位
● 五英寸高分辨率電容式觸摸屏GUI
● 源和阱（4象限）操作
● SCPI和TSP®腳本編程模式
● 用于多通道I-V測試的TSP鏈路
● 前面板輸入香蕉插孔；后面板高壓輸入三軸連接
● 內(nèi)置上下文相關幫助
● 前面板USB 2.0內(nèi)存I/O端口，用于傳輸數(shù)據(jù)、測試腳本和測試配置
產(chǎn)品應用
● 相對低頻測量
● 低頻計算機和電信測量
● 電源
● 低頻放大器
